加速器单粒子效应样品温度测控系统研制及实验应用

• 作者: 刘建成 史淑廷 惠宁 沈东军 王惠 王贵良 范辉 蔡莉 郭刚
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 低温 高温 重离子 单粒子效应 单粒子翻转
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 2261-2265
• 页数: 5页
• 分类号: O571.33
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/yzk.2015.49.12.2261

摘要

为满足国内半导体器件单粒子效应(SEE)截面与温度的关系研究需求 ,本文基于北京 HI-13串列加速器SEE辐照实验终端研制了样品温度测控系统 ,实现了90~450 K范围内实验样品温度的测量和控制 ,系统控制精度好于± 1 K.为验证系统可靠性 ,使用该系统研究了SRAM 单粒子翻转(SEU )截面随温度的变化关系 ,在215~353 K 范围内测量了 SRAM 翻转截面随温度的变化曲线.结果表明 , SRAM SEU截面随温度的升高而增加 ,与理论预期结果一致.