ALTECC_DECODER IP核的IEEE 1500 Wrapper设计

• 作者: 王建喜
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: IP核 IEEE 1500 Wrapper Hamming
• 年，卷（期）: 2015,（10）
• 所属期刊栏目: 电子·电路
• 页码范围: 134-137
• 页数: 4页
• 分类号: TN79
• 字数: 1515字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2015.10.036

摘要

IP核的广泛应用提高了电路集成的效率.由于众多功能各异的IP核集成在电路中,完善的测试机制是确保其正常工作的前提.因此,如何对IP核进行测试成为复用IP核技术必须解决的问题.IEEE Std 1500提供了IP核的测试实现机制,文中基于IEEE 1500研究如何实现IP核的Wrapper设计,实验以Hamming码译码IP核ALTECC_DECODER为测试对象,验证了IEEE 1500 Wrapper可有效地对IP核进行测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王建喜	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	3	3	1.0	1.0