纳秒脉冲下温度、频率对尼龙6电老化的影响

• 作者: 严萍 冉慧娟 王涛 王珏
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 尼龙6 电树枝 ns脉冲 电老化 PTFE PMMA
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 过电压与绝缘
• 页码范围: 1334-1341
• 页数: 8页
• 字数: 5266字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2015.04.035

摘要

尼龙6作为绝缘材料经过长时间运行后,绝缘性能会受老化的影响而劣化.目前对此类绝缘材料的研究多集中在常温和工频下,在ns脉冲条件下的研究较少.为了研究温度、频率对尼龙6中电树枝引发的影响,实验采用了固态ns脉冲发生器MPC50D为激励源,其具有30 ns的下降沿和70 ns的脉冲宽度;使用温度循环实验箱SP-80U控制实验温度.实验的温度设定为-40～60℃,频率设定为20～1 500 Hz.实验结果表明:温度对尼龙6中的电树枝引发电压有明显的影响,随温度的升高电树枝引发电压下降明显;频率对电树枝的影响并不明显,只在200 Hz以下出现了较明显的趋势;尼龙6、聚四氟乙烯(PTFE)和有机玻璃(PMMA)中的电树枝形态差异巨大,尼龙6中为丛林形,PTFE中为树枝形,PMMA中为层裂形;ns脉冲下击穿通道出现了放电引发的扇形结构.实验数据为尼龙6在ns脉冲下的绝缘应用提供了参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王涛	中国科学院电工研究所	392	8395	45.0	77.0
10	严萍	中国科学院电工研究所	191	2402	27.0	36.0
19	王珏	中国科学院电工研究所	140	3295	27.0	54.0