基于 Sigma-Delta调制技术的片内正弦激励生成方法

• 作者: 冯燕 彭智聪 柳臻朝 陈岚
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 内建自测试 正弦激励生成 比特流 Sigma-Detla调制 相干采样
• 年，卷（期）: 2015,（11）
• 页码范围: 137-141
• 页数: 5页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文

摘要

针对模拟混合信号ADC的内建自测试，研究了基于Sigma‐Delta调制技术的片内正弦激励生成方法，着重对该方法软件部分的实现进行了阐述。通过设计Sigma‐Delta调制器，并对输出的比特流特性进行分析，提出了满足信噪比要求的最短比特流长度选择方法，以及在该长度下的比特流序列优化方法。以12位待测ADC为例，采用该方法生成了最优比特流序列，满足了信噪比的设计要求，验证了方法的可行性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈岚	中国科学院微电子研究所	86	361	10.0	14.0
2	冯燕	中国科学院微电子研究所	12	67	3.0	8.0
3	彭智聪	中国科学院微电子研究所	3	4	1.0	1.0
4	柳臻朝	中国科学院微电子研究所	2	4	2.0	2.0