结构参数对串联微环谐振腔编解码器性能的影响?

• 作者: 刘铁根 吉喆 张以谟 张德龙 张红霞 贾大功
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 光码分多址编解码器 自相关峰值旁瓣比 互相关峰值比 微环谐振腔
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 电磁学、光学、声学、传热学、经典力学和流体动力学
• 页码范围: 428-435
• 页数: 8页
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.64.034218

摘要

光码分多址系统中,光编解码器是影响系统性能的关键因素之一.自相关峰值旁瓣比(P /W)、自互相关峰值比(P/C)是衡量编解码器性能的两个重要指标.以硅基SOI微环谐振腔为载体,提出了一种串联三环阵列的二维相干OCDMA编解码器模型.详细研究了耦合系数、损耗系数、阵列间距以及通道间隔对微环谐振腔编解码器性能的影响.结果表明,半径为50μm的微环,环与直波导间耦合系数在0.6—0.7之间,环与环间耦合系数在0.1—0.2之间,损耗系数<2 dB/cm,阵列间距大于3 mm,通道间隔在25—36 GHz间时,编解码器能够获得良好的性能.