缺陷密度法的软件测试质量度量分析技术

• 作者: 尤艺 段洪栋 王瀚超
• 来源期刊: 计算机仿真
• 学科: 工学
• 关键词: 软件测试 质量度量 缺陷密度
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 所属期刊栏目: 仿真服务化
• 页码范围: 451-454
• 页数: 4页
• 分类号: TP311.5
• 字数: 2733字
• 语种: 中文

摘要

阐述了航天型号软件测试质量度量的现状,通过构建缺陷度量测试工具平台,提供了一种软件确认测试项目的质量数据统计方法和分析预测方法,指导嵌入式、非嵌入式及FPGA等各类软件第三方确认测试过程中软件缺陷的发现,提高软件测试的充分性和有效性.分别从测试度量平台搭建的重要性以及该平台应用于测试过程中软件缺陷度量、分析及预测等方面进行深入剖析,为提高软件测试的效率,发现软件开发设计缺陷提供有效真实的依据和方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尤艺		4	34	3.0	4.0
2	段洪栋		1	9	1.0	1.0
3	王瀚超		1	9	1.0	1.0