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摘要:
本文对由于暗室处理不当而引起的底片质量问题进行了归纳和总结,分析了常见底片伪缺陷的种类、产生原因、识别方法,提出了一些预防措施和解决方法.
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文献信息
篇名 X射线底片常见伪缺陷及其预防措施
来源期刊 装备制造技术 学科 工学
关键词 X射线底片 伪缺陷 预防 无损探伤
年,卷(期) 2015,(7) 所属期刊栏目 经验与创新
研究方向 页码范围 264-266
页数 3页 分类号 TG115.28
字数 2001字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 侯佼 2 0 0.0 0.0
2 刘俊华 2 0 0.0 0.0
3 闵立强 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
X射线底片
伪缺陷
预防
无损探伤
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
装备制造技术
月刊
1672-545X
45-1320/TH
大16开
广西壮族自治区南宁市
1973
chi
出版文献量(篇)
14754
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37
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