Ti-Al体系含量对激光引燃自蔓延连接Cf/Al与TiAl接头显微组织和力学性能的影响

• 作者: 冯士诚 冯广杰 李卓然 申忠科
• 来源期刊: 中国有色金属学报（英文版）
• 关键词: Cf/Al复合材料 TiAl合金 连接 自蔓延高温合成 中间层 Ti-Al含量
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 页码范围: 1468-1477
• 页数: 10页
• 字数: 1397字
• 语种: 英文
• DOI: 10.1016/S1003-6326(15)63747-5

摘要

采用Ni-Al-Ti作中间层,通过激光引燃自蔓延方法对Cf/Al复合材料与TiAl合金进行连接,研究中间层中Ti-Al含量对接头界面显微组织和力学性能的影响.接头中发生了母材的局部融化,并在两侧母材处生成了γ-Ni0.35Al0.30Ti0.35、NiAl3和Ni2Al3反应层.接头缺陷(如气孔、裂纹)降低了接头的致密度,并作为断裂源使接头强度急剧下降.添加 Ti-Al 可以改善接头致密度,并增强中间层产物与 Cf/Al 复合材料的附着力.通过改变 Ti-Al含量,可以控制接头缺陷.当Ti-Al含量为0.1时,接头中无裂纹产生,致密度良好,强度达到最高值24.12 MPa.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李卓然	哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室	49	517	13.0	19.0
2	冯广杰	哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室	7	31	5.0	5.0
3	冯士诚	哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室	1	6	1.0	1.0
4	申忠科	哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室	1	6	1.0	1.0