活化法测量散裂靶中子能谱的实验验证

• 作者: 曾丽娜 王强 艾自辉 郑春
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 活化法 散裂源 中子能谱 ADS
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 反应堆工程
• 页码范围: 700-704
• 页数: 5页
• 分类号: TL326
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/yzk.2015.49.04.0700

摘要

散裂靶中子的能谱对加速器驱动次临界系统的倍增因数和嬗变率等影响很大，计算表明散裂靶中子谱在M eV能区与裂变中子谱相近。本文利用活化法测量临界装置的泄漏中子谱和中子注量率，提出了用In、Al、Mg、Ti、Au、Zn、Ni、Rh、Fe和Co等活化箔测量散裂靶中子能谱和中子注量率的方案。结果表明，将活化箔在散裂靶中子场中辐照5 h ，中子注量最高达5×1014 cm－2量级，辐照后1 h内取出活化箔，根据半衰期的长短安排测量顺序，可测量散裂靶的中子能谱和中子注量率。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王强	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	43	154	7.0	10.0
5	曾丽娜	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	4	5	2.0	2.0
9	艾自辉	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	9	17	2.0	3.0