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摘要:
复杂可编程逻辑器件作为电路的核心器件,其故障往往会导致整个电路功能失效。论文详述了国内外含复杂可编程逻辑器件的研究现状,并在分析现有主要采用的测试方法优缺点的基础上,对发展方向和思路进行了分析探索。
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内容分析
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文献信息
篇名 含复杂可编程逻辑器件电路板的自动测试技术研究
来源期刊 舰船电子工程 学科 工学
关键词 复杂逻辑器件 边界扫描 VITAL Scan Works
年,卷(期) 2015,(7) 所属期刊栏目 述评
研究方向 页码范围 15-17,176
页数 4页 分类号 TP206
字数 4850字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn1672-9730.2015.07.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张允强 3 2 1.0 1.0
2 丁晓玲 5 6 1.0 2.0
传播情况
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引文网络
引文网络
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2016(1)
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  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
复杂逻辑器件
边界扫描
VITAL
Scan Works
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
舰船电子工程
月刊
1672-9730
42-1427/U
大16开
湖北省武汉市
1981
chi
出版文献量(篇)
9053
总下载数(次)
18
总被引数(次)
27655
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