JJG1104-2015《动态光散射粒度分析仪检定规程》解读

• 作者: 刘俊杰 孙帅杰 张文阁 胡向军 邢化朝
• 来源期刊: 中国计量
• 年，卷（期）: 2015,（10）
• 所属期刊栏目: 技术培训
• 页码范围: 115-117
• 页数: 3页
• 语种: 中文

摘要

一、规程制定背景 动态光散射粒度分析仪(DLS)是一种用于测量分散于液体中纳米/亚微米颗粒粒径及粒径分布的常规分析仪器,所适用的颗粒粒径范围从几纳米至大约1微米或至颗粒开始沉降时的粒径.该技术已广泛应用于生物制药、材料、航空航天、微电子、纺织工业、机械制造等众多领域,其测量结果的准确性关系上述领域的技术及产品发展,如:在纳米器件加工生产中,动态光散射法测量结果的准确性、可比性对纳米器件的设计和构造起决定性的支撑作用.而动态光散射粒度分析仪检定规程的制定对于开展仪器检定/校准,保证仪器检测结果的准确可靠提供了可靠的技术依据和保障.