SF6中绝缘子表面电荷积聚及其对直流GIL闪络特性的影响

• 作者: 张博雅 张贵新 李金忠 王强
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 表面电荷 绝缘子 SF6 气体绝缘 GIL 特高压直流 闪络 静电探头
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 所属期刊栏目: 大容量直流电缆输电和管道输电关键基础研究(973计划项
• 页码范围: 1481-1487
• 页数: 7页
• 字数: 3172字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2015.05.009

摘要

随着中国特高压直流输电工程建设进程的逐渐加快,直流气体绝缘输电线路(GIL)的需求日益迫切,对GIL在特高压直流下一些关键问题的研究显得至关重要.因此针对直流电压下GIL中盆式绝缘子表面电荷积聚问题展开研究,建立了一套基于静电探头法的表面电荷测量系统,研究了在SF6气体环境中,不同电压幅值和电压极性反转情况下绝缘子表面电荷的积聚规律.同时,在特高压直流GIL试验单元上进行了直流闪络试验,研究了绝缘子表面电荷积聚对直流闪络特性的影响.研究结果表明:在0.5 MPa的SF6中,绝缘子表面主要积聚与所加直流电压极性相反的电荷,这种电荷分布将增大绝缘子表面与中心电极间的局部场强,并将进一步导致绝缘子闪络;GIL中盆式绝缘子的直流耐受电压仅为交流耐受电压的64％左右.该研究为GIL中盆式绝缘子在直流电压下闪络电压下降提供了一种可能的解释.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王强	清华大学电机工程与应用电子技术系	138	1646	24.0	36.0
5	张贵新	清华大学电机工程与应用电子技术系	76	1111	16.0	30.0
9	李金忠		52	1058	20.0	31.0
10	张博雅	清华大学电机工程与应用电子技术系	6	101	3.0	6.0