粗糙逻辑中理论相容性的拓扑刻画

• 作者: 折延宏 贺晓丽
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 粗糙逻辑度量空间 相容性 拓扑刻画
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 理论研究、研发设计
• 页码范围: 64-68
• 页数: 5页
• 分类号: TP391
• 字数: 4490字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.1304-0448

摘要

有关文献将计量化方法应用于粗糙逻辑之中，建立起了用以处理近似推理问题的粗糙逻辑度量空间理论。拟借助于粗糙逻辑度量空间理论，从拓扑学的角度给出粗糙逻辑理论相容性的等价刻画。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	折延宏	西安石油大学理学院	18	52	4.0	7.0
2	贺晓丽	西安石油大学理学院	12	27	2.0	5.0