基于等温表面电位衰减法的直流电缆用低密度聚乙烯和交联聚乙烯陷阱电荷分布特性

• 作者: 刘孟佳 周福升 李建英 欧阳本红 赵健康 闵道敏
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 低密度聚乙烯 交联聚乙烯 直流电缆 陷阱电荷 等温表面电位衰减 ISPD 陷阱
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 所属期刊栏目: 电力电缆
• 页码范围: 2689-2696
• 页数: 8页
• 字数: 4716字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2015.08.021

摘要

空间电荷积聚是影响直流电缆安全运行的重要原因,定量表征直流电缆用聚乙烯材料内陷阱电荷的分布特性并分析其内部陷阱产生的根源,对抑制空间电荷积聚、加强直流电缆安全可靠运行具有重要意义.为此,采用直流电晕充电法对低密度聚乙烯(low-density polyethylene,LDPE)和交联聚乙烯(crosslinked polyethylene,XLPE)薄膜试样进行了充电,以模拟直流加压时电荷的注入过程.通过考虑材料内入陷电荷的出陷规律,建立了1个等温表面电位衰减(isothermal surface potential decay,ISPD)模型.通过分析LDPE和XLPE薄膜试样的ISPD数据,获得了其内部陷阱电荷的分布特性,并进一步分析了LDPE与XLPE形态学特性和添加剂对陷阱形成的影响.结果表明:LDPE和XLPE中分别存在2个陷阱中心,即浅陷阱中心和深陷阱中心;LDPE中与XLPE中空穴深陷阱电荷密度都高于空穴浅陷阱电荷,即2者空穴陷阱电荷主要以深陷阱为主;XLPE中空穴浅陷阱电荷与空穴深陷阱电荷之间的数量差距减少,XLPE中空穴浅陷阱高于LDPE中空穴浅陷阱.交联副产物对XLPE内部陷阱的形成产生重要影响,且添加剂形成的空穴类型陷阱的深度并不完全相同.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	欧阳本红		10	137	7.0	10.0
3	李建英	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	80	757	17.0	24.0
4	赵健康		14	510	9.0	14.0
7	周福升	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	4	50	3.0	4.0
8	闵道敏	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	15	78	5.0	8.0
9	刘孟佳	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	1	25	1.0	1.0