抗单粒子效应的动态逻辑电路版图加固方法

• 作者: 杨云楼 王海滨
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 动态逻辑 抗辐射加固 单粒子效应 软错误 脉冲窄化
• 年，卷（期）: 2015,（19）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 36-40
• 页数: 5页
• 字数: 2805字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2475

摘要

在高速电路设计中，动态逻辑电路应用十分广泛。但由于缺乏内在的上拉恢复路径，动态逻辑电路对单粒子效应极其敏感。因此，相比静态逻辑电路，它们在可靠性要求较高的应用中缺乏吸引力。因此，基于版图布局技术，提出了两个抗单粒子效应的动态逻辑电路设计。因为敏感节点之间的电荷共享效应，单粒子瞬态脉冲得到抑制。仿真结果和实验数据验证了它们具有更高的防止单粒子效应错误的能力。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王海滨	河海大学物联网工程学院	18	102	6.0	9.0
2	杨云楼	河海大学物联网工程学院	1	0	0.0	0.0