原文服务方: 现代电子技术       
摘要:
随着集成电路行业的不断发展,芯片设计规模空前增长,功能也越来越复杂,使得验证的难度和重要性日益增大。在此提出一种由SystemVerilog语言搭建的基于VMM的一种面向对象的验证平台。该验证平台主要使用覆盖率驱动的验证技术,并结合可约束随机测试和记分板技术,对一款多核处理器芯片中的L2 Cache进行功能验证。最后对验证平台的可重用性进行研究。实验结果表明,验证平台具有良好的激励生成机制,能够对L2 Cache模块的功能进行全面的验证;同时,验证平台经过少量更改就可以在基于标准的AXI接口的SoC验证平台之间重用,极大地提高了验证效率,缩短了验证时间。
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VMM
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基于VMM构建可重用验证平台
System Verilog
VMM
可重用
验证平台
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 基于VMM的 L2 Cache的验证平台的设计与实现
来源期刊 现代电子技术 学科
关键词 VMM L2 Cache 功能验证 System Verilog 功能覆盖率 重用性
年,卷(期) 2015,(4) 所属期刊栏目 电子与信息器件
研究方向 页码范围 125-128
页数 4页 分类号 TN710-34|TP302
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 潘明 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 44 285 8.0 13.0
2 苏雪 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 5 17 3.0 4.0
3 翟江涛 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 4 10 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
VMM
L2 Cache
功能验证
System Verilog
功能覆盖率
重用性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代电子技术
半月刊
1004-373X
61-1224/TN
大16开
1977-01-01
chi
出版文献量(篇)
23937
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