交联聚乙烯电缆水树修复前后电缆微观结构的变化

• 作者: 周凯 尧广 杨滴 陶文彪 陶霰韬
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 红外光谱 老化 硅氧烷 电缆修复 分子结构
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 高电压技术
• 页码范围: 228-234
• 页数: 7页
• 分类号: TM2
• 字数: 3028字
• 语种: 中文

摘要

针对XLPE电缆绝缘层水树区修复前后的微观结构变化,本文主要利用红外光谱检测技术(Fourier Transform Infrared Spectroscopy,FTIR)观测新样本、老化样本和修复样本分子结构的变化,并阐明其变化原因.老化样本的红外光谱检测结果显示老化样本中水树区甲基(-CH3)、羟基(-OH)基团含量增加,C=O键吸收峰强度加强.说明在电缆老化过程中,电缆XLPE绝缘层存在分子键断裂和氧化降解.而在修复样本的红外光谱中,发现甲基、羟基和C=O键吸收峰强度明显地减弱,C-Si键吸收峰的强度略微增强.同时,利用扫描电镜(SEM)和X射线能谱分析仪对修复样本水树区进行分析,发现水树区中硅元素的原子百分比和重量百分比增加.即修复后电缆水树区的化学元素含量和分子结构发生改变,从而影响了电缆绝缘性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周凯	四川大学电气信息学院	143	755	15.0	20.0
2	陶霰韬	四川大学电气信息学院	13	136	7.0	11.0
3	陶文彪	四川大学电气信息学院	23	200	8.0	13.0
4	杨滴	四川大学电气信息学院	13	114	7.0	10.0
5	尧广		2	19	2.0	2.0