一种不受CT饱和影响的非同步故障测距新方法

• 作者: 刘炜 周皓东 黄燕
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: CT饱和影响 非同步 故障测距 序分量
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 工程应用及技术交流
• 页码范围: 123-128
• 页数: 6页
• 分类号: TM77
• 字数: 3715字
• 语种: 中文

摘要

双端量法故障测距中通常会采用双端电压和电流数据,其中电流量容易受CT饱和影响而影响测距的准确性.为了消除该影响,文章提出一种不需要采用电流量计算的故障测距新方法.新方法仅需用电压量计算,在原理上不受CT饱和影响.采用序分量法构造了关于故障距离的方程,在原理上消去了非同步角,不需要双端数据同步.仿真计算表明提出的新方法具有较高的测距精度,不易受非同步角和过渡电阻的影响,具有良好的工程应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄燕	江西省科学院高科技开发中心	5	32	2.0	5.0
2	周皓东	江西省科学院高科技开发中心	8	40	3.0	6.0
3	刘炜	江西省科学院高科技开发中心	8	43	3.0	6.0