微机电系统动态测试技术的发展及应用

• 作者: 卢清华 张立平
• 来源期刊: 机电工程技术
• 学科: 工学
• 关键词: MEMS 动态测试 光学测试 综合测试
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 57-59
• 页数: 3页
• 分类号: TP271+.4|O348.3
• 字数: 2801字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9492.2015.04.015

摘要

微机电系统动态测试主要是对微结构的微小位移和变形进行测试研究,其结果直接影响微结构的运动特征和功能,因此在微机电的发展过程中非常重要.随着MEMS的迅速发展,对测试技术不断提出新的要求,尤其是MEMS动态测试面临前所未有的挑战,为此对国内学者在MEMS动态测试技术方面的研究成果进行了归纳总结,分析了其应用场合和测试范围,其中非接触式光学测试方法在MEMS动态测试中备受关注,多种方法相结合的综合测试技术成为MEMS动态测试技术的主要发展方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	卢清华	佛山科学技术学院机械与电气工程学院	44	158	7.0	10.0
2	张立平	佛山科学技术学院机械与电气工程学院	10	21	3.0	4.0