原文服务方: 现代电子技术       
摘要:
为了实现自动测量石英晶片的频率等相关参数并进行分档,研究了石英晶片的图像定位技术,主要利用图像处理技术对采集的图像进行图像二值化、边缘检测、轮廓提取等处理,完成对石英晶片中心的定位。经验证,该石英晶片定位技术能够在保证系统要求的石英晶片分选速度的前提下实现石英晶片的准确定位。
推荐文章
基于OpenCV的石英晶片污垢检测技术研究
OpenCV
石英晶片
轮廓提取
污垢检测
石英晶片外观缺陷对频率的影响
石英晶片
外观缺陷
谐振频率
自动检测
石英晶片测量分选系统的研究与设计
石英晶片
ISA总线接口
π网络
步进电机控制卡
VisualC++6.0
基于单片机的石英晶片镀膜测控系统设计
石英晶片
谐振频率
蒸发镀膜
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 基于图像处理的石英晶片定位技术研究
来源期刊 现代电子技术 学科
关键词 石英晶片 定位技术 图像处理 自动分选
年,卷(期) 2015,(1) 所属期刊栏目 测试?测量?自动化
研究方向 页码范围 109-111,114
页数 4页 分类号 TN911.73-34
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李东 北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院 55 144 7.0 8.0
2 王艳林 北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院 32 89 6.0 7.0
3 安宝健 北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院 1 1 1.0 1.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (46)
共引文献  (44)
参考文献  (10)
节点文献
引证文献  (1)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1978(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1986(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1989(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1993(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1997(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2000(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
2001(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2002(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2003(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2004(4)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(4)
2005(5)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(5)
2006(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
2007(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
2008(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2009(5)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(5)
2010(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
2011(8)
  • 参考文献(3)
  • 二级参考文献(5)
2012(8)
  • 参考文献(5)
  • 二级参考文献(3)
2013(2)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(0)
2015(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2018(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
石英晶片
定位技术
图像处理
自动分选
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代电子技术
半月刊
1004-373X
61-1224/TN
大16开
1977-01-01
chi
出版文献量(篇)
23937
总下载数(次)
0
  • 期刊分类
  • 期刊(年)
  • 期刊(期)
  • 期刊推荐
论文1v1指导