NIST:传感器提高纳米研究测量能力

• 作者: 楚珺尧
• 来源期刊: 中国计量
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 所属期刊栏目: 计量荟萃
• 页码范围: 60
• 页数: 1页
• 语种: 中文

摘要

美国国家标准与技术研究院(NIST)开发了一种应用于原子力显微镜(AFM)的新型传感器.校准AFM针尖的工具嵌入传感器中,可以避免在狭小空间校准针尖时必须将针尖移出从而导致结果偏差的问题. AFM可以识别小到原子的特征,用一个灵活带尖细针的悬臂“触感”物体表面.通过针尖上原子与物体表面原子间相互作用引起悬臂弯曲,揭示最细微特征.由于这种力相当微弱,研究人员通过使针尖在特定频率振动提高AFM的灵敏度,当它通过物体表面时测量频率的变化.