篇名 | Single-event response of the SiGe HBT in TCAD simulations and laser microbeam experiment | ||
来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
关键词 | SiGe heterojunction bipolar transistor single event effect three-dimensional numerical simulation laser microbeam experiment | ||
年,卷(期) | 2015,(8) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 605-608 | |
页数 | 4页 | 分类号 | |
字数 | 语种 | 中文 | |
DOI | 10.1088/1674-1056/24/8/088502 |