二次电子发射对质子束流测量精度的影响分析

• 作者: 王海娃
• 来源期刊: 新经济
• 关键词: 二次电子发射 质子束流 高能质子
• 年，卷（期）: 2015,（7）
• 所属期刊栏目: 科技信息
• 页码范围: 147-148
• 页数: 2页
• 字数: 2699字
• 语种: 中文

摘要

由于法拉第探测器所测量的质子束流精度受到二次电子发射的严重印象,因此必须降低或是彻底解决二次电子发射带来的影响,从而提升束流测量精度.依据二次电子的相关补偿原理设计出二次电子补偿模型的同轴探测器,通过实验发现法拉第探测器在测量质子束流的强度过程中难以完成二次电子补偿.为了能够有效改进与创新法拉第探测器的设计,在理论方面分析二次电子造成的束流测量精度的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王海娃	仰恩大学维修部	3	0	0.0	0.0