原文服务方: 计算机测量与控制       
摘要:
雷达性能测试贯穿于雷达系统的研发和使用阶段,针对目前雷达测试平台存在集成化、稳定性不足的情况,设计了一种基于射频(RF)开关矩阵的雷达性能双通道集成测试平台;首先,基于RF开关矩阵和通用仪器设计双通道测试结构;继而开发程控软件,同步控制开关矩阵的切换和各项仪器的数据采集,实现自动化雷达性能测试;该平台校准面插损和测试面插损之间的误差远小于传统方法,对雷达指标的测试精度可达到0.1 dB以上;且通过自动化的信号采集、信号处理及数据分析,实现了对雷达设备的高精度、高效率自动化性能测试.
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文献信息
篇名 基于RF开关矩阵的雷达双通道测试平台
来源期刊 计算机测量与控制 学科
关键词 雷达性能测试 射频开关矩阵 集成测试平台
年,卷(期) 2015,(9) 所属期刊栏目 自动化测试技术
研究方向 页码范围 2939-2941
页数 3页 分类号 TP311
字数 语种 中文
DOI 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2015.09.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王建峰 中国科学院电子学研究所 15 36 3.0 5.0
7 乞耀龙 中国科学院电子学研究所 6 19 3.0 4.0
11 林赟 中国科学院电子学研究所 21 131 6.0 10.0
18 朱勇涛 中国科学院电子学研究所 1 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
雷达性能测试
射频开关矩阵
集成测试平台
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机测量与控制
月刊
1671-4598
11-4762/TP
大16开
北京市海淀区阜成路甲8号
1993-01-01
出版文献量(篇)
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