一种芯片外观检测筛选器的设计

• 作者: 向志渊 曹杰 王春
• 来源期刊: 装备制造技术
• 学科: 工学
• 关键词: 筛选器 信息熵 模式识别
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 经验与创新
• 页码范围: 63-65
• 页数: 3页
• 分类号: TH122
• 字数: 2736字
• 语种: 中文

摘要

根据芯片加工完成后常见缺陷,提取特征并将其分类.基于信息熵特征选择方法,将这些特征量进行优化选择.基于BP神经网络的构建了筛选器模型,并设计了机械结构,通过现场对样本的采集进行训练与测试,结果表明该筛选器能够很好识别5种常见的芯片缺陷.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	向志渊	钟山职业技术学院工业与信息化学院	9	10	1.0	2.0
2	曹杰	桂林电子科技大学机电工程学院光机电一体化研究所	4	9	1.0	2.0
3	王春	钟山职业技术学院工业与信息化学院	5	1	1.0	1.0