高速大容量存储电路板的信号性能分析研究

• 作者: 侯斌 巩稼民 杨祎
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 信号完整性 拓扑结构 信号反射 端接 时延
• 年，卷（期）: 2015,（13）
• 所属期刊栏目: 电子技术应用
• 页码范围: 137-140,144
• 页数: 5页
• 分类号: TN802-34
• 语种: 中文

摘要

针对高速电路的PCB设计中拓扑结构产生的信号完整性问题，以TI8168芯片与高速多片DDR3的互联为背景，通过分析高速电路板中的总线拓扑结构，研究高速电路板的布线原理和信号完整性理论，提出一种T型与Fly?by相结合的拓扑结构和信号反射控制方法，采用Cadence软件中的SigXplorer软件进行仿真。结果表明，这种拓扑结构既解决了Fly?by结构中接收端信号的时延和实际布线困难的问题，又优化了T型拓扑中多片DDR3接收端端接的复杂问题，有效地消除了信号的延时和反射，从而保证了信号的完整性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	巩稼民	西安邮电大学电子工程学院	103	304	9.0	11.0
2	杨祎	西安邮电大学电子工程学院	38	106	6.0	8.0
3	侯斌	西安邮电大学电子工程学院	2	10	2.0	2.0