光子晶体负折射材料中缺陷对成像质量的影响

• 作者: 刘逢芳 朱兆杰 童元伟
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 材料 光子晶体 负折射 缺陷 时域有限差分法 成像质量
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 材料
• 页码范围: 267-274
• 页数: 8页
• 分类号: O436
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS201535.0416004

摘要

利用硅介质柱在空气中周期性排列构成六角结构的光子晶体平板,并在晶体平板中引入不同构型的缺陷,通过改变缺陷介质柱的半径和缺陷中心位置探讨引入缺陷对成像质量产生的影响.时域有限差分法模拟结果表明:介质柱半径和位置的改变,能使光的透射率提高,增加像方的强度.由于缺陷的引入,缺陷之间的相互干扰会降低成像的分辨率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	童元伟		15	35	3.0	5.0
2	刘逢芳		1	0	0.0	0.0
3	朱兆杰		1	0	0.0	0.0