新生儿低血糖性脑损伤的危险因素及预后分析

• 作者: 闫红敏
• 来源期刊: 临床医学
• 关键词: 新生儿 低血糖 脑损伤 危险因素
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 107-108
• 页数: 2页
• 字数: 2060字
• 语种: 中文

摘要

目的：针对新生儿低血糖性脑损伤的危险因素、预后进行分析研究。方法选择2013年2月至2014年2年在禹州市妇幼保健院儿科进行新生儿低血糖性脑损伤治疗的40例患儿为观察组，并选择同期新生儿低血糖无脑损伤的40例患儿为对照组，对两组患儿的低血糖程度、低血糖持续时间、母亲高危妊娠、糖尿病母亲、患儿体质量、患儿性别、患儿胎龄、5 min Apgar评分、患儿开奶时间、患儿惊厥、剖宫产、神经系统后遗症等相关临床资料进行回顾比较。结果观察组患儿低血糖程度与对照组比较差异有统计学意义（ P<0.05），且观察组低血糖发生率低于对照组，差异有统计学意义（P<0.05）。观察组患儿低血糖持续时间长于对照组，差异有统计学意义（P<0.05）。观察组母亲高危妊娠、患儿性别、患儿体质量、患儿胎龄、剖宫产、糖尿病母亲等因素对照组比较差异无统计学意义（ P>0.05）。观察组5 min Apgar评分低于5分的患儿所占比例与对照组比较，P<0.05，差异有统计学意义。观察组患儿与对照组患者的惊厥发生率分别为40.00%、7.50%，差异有统计学意义（P<0.05）。两组开奶时间比较差异有统计学意义（P<0.05）。观察组脑损伤神经系统后遗症发生率高于对照组，差异有统计学意义（ P<0.05）。在多因素分析中，OR值增加，低血糖性脑损伤发生的危险性就增高，严重的感染、宫内窘迫、长时间持续性的低血糖可增加新生儿低血糖性脑损伤发生的危险概率。结论新生儿低血糖性脑损伤患儿低血糖程度越严重、低血糖持续越久、开奶时间越晚、惊厥发生率越高，脑损伤发生率越高，且低血糖性脑损伤的预后质量越差，造成低血糖性脑损伤神经系统后遗症发生。为了降低新生儿低血糖性脑损伤的发生率，需要针对其发生的危险因素进行分析，采取针对性的预防、治疗措施，降低发生率，促进患儿脑损伤细胞功能的恢复，降低神经系统后遗症的发生率。