控制舱测试系统及其BIT设计

• 作者: 程进 郑步生 阿超
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 工控机 测试系统 CPLD 机内检测
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 页码范围: 43-45,50
• 页数: 4页
• 分类号: TN06-34|TP206
• 语种: 中文

摘要

为改善当前导弹控制舱的测试状况，设计了一种以PXI总线工控机为核心的控制舱测试系统，选用高精度的传感器和调理电路对数据进行采集，利用CPLD对增量编码器进行角度值的解算以及激励信号的时序控制，配合Visual Studio平台的监控软件对数据进行分析处理输出。并在测试系统架构的基础上，充分利用CPLD的灵活性进行了环绕BIT设计，大大节省了硬件资源，完成了系统的机内检测，保证了测试系统的可靠性，实现了一个高精度、高效率、低误差的控制舱测试系统。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑步生	南京航空航天大学电子信息工程学院	21	81	5.0	7.0
2	阿超		5	12	1.0	3.0
3	程进	南京航空航天大学电子信息工程学院	1	0	0.0	0.0