调试功率放大电路中常见问题的探讨与解决方案

• 作者: 张建荣 张浩
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 晶体管 非线性失真 热击穿
• 年，卷（期）: 2015,（24）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案
• 页码范围: 68-69
• 页数: 2页
• 字数: 1655字
• 语种: 中文

摘要

针对功率放大电路中接地方式,波形失真以及热击穿三种常见问题做出解释并对提出解决方案.在功率放大电路中添加电容,电阻等元件改进电路稳定性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张建荣	山西大学商务学院	21	23	3.0	3.0
2	张浩	山西大学商务学院	8	1	1.0	1.0