一种有气隙磁元件高频绕组损耗的测量评估方法

• 作者: 叶建盈 陈为
• 来源期刊: 中国电机工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 磁元件 绕组损耗 气隙 高频
• 年，卷（期）: 2015,（7）
• 所属期刊栏目: 电力电子与电力传动
• 页码范围: 1749-1755
• 页数: 7页
• 分类号: TM552
• 字数: 4650字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13334/j.0258-8013.pcsee.2015.07.024

摘要

有气隙磁元件的气隙参数设计对绕组交流损耗影响很大,但目前还缺少测量其绕组损耗的有效方法.对有气隙磁元件绕组损耗的产生机理及相关电磁理论进行分析的基础上,提出一种基于气隙等效绕组磁动势替代气隙磁压降的绕组损耗测量方法,通过测试对比验证该方法能有效地评估绕组交流损耗的各种影响因素.进一步采用电磁场三维有限元仿真验证测量结果的准确性,为有气隙磁元件的气隙设计以及绕组损耗分析提供一种有效的测量或评估对比方法,也可以用于从其他方法测量得到的磁元件总损耗中扣除绕组损耗,从而获得磁芯损耗.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈为	福州大学电气工程与自动化学院	171	1274	19.0	31.0
2	叶建盈	福州大学电气工程与自动化学院	6	39	3.0	6.0