光耦参数综合测试仪的实现

• 作者: 吴正阳 邬正义
• 来源期刊: 自动化与仪器仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 光耦 微弱电流检测 程控高压源 击穿电压
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 过程自动化
• 页码范围: 49-51
• 页数: 3页
• 分类号: TP216
• 字数: 3112字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14016/j.cnki.1001-9227.2015.02.049

摘要

介绍了一种光耦测试仪,可测试不同型号多种功能参数,用于快速判别光耦性能.仪表内部微控制器按照测试光耦型号及参数,切换继电器矩阵形成测试电路,控制程控电压源和程控电流源加载测试条件,并结合相关电路,获取参数完成测试.击穿电压测试需要的高压由程控高压源灵活给定,改变了传统测试时电压不可调的局限性.微弱电流检测单元实现了纳安级的电流测量.光耦参数测量完毕后,按型号分区成组存储,并可通过串口上传测试数据,存人数据库,按需打印报表.在企业运行多年,表明该测试仪稳定、准确、可靠.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邬正义	常熟理工学院物理与电子工程学院	24	91	6.0	8.0
2	吴正阳	常熟理工学院物理与电子工程学院	16	39	3.0	6.0