基于UVM的存储控制器功能验证

• 作者: 曹阳 胡越黎
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: UVM验证方法学 存储控制器 受约束的随机化激励 功能覆盖率
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 试验与评价技术
• 页码范围: 834-837
• 页数: 4页
• 分类号: TP311
• 语种: 中文

摘要

采用通用验证方法学(UVM)搭建验证平台,以AHB总线上挂载的存储控制器为验证对象,重点分析了UVM验证平台的设计;采用传统的定向验证方法将很难遍历到所有情况,而通过UVM验证平台能够产生受约束的随机激励信号,对存储控制器进行全面的验证,并能自动收集功能覆盖率和分析验证结果;验证结果表明,该验证平台能有效地查出设计缺陷,达到覆盖率要求,减少验证时间,提高验证效率,且具有良好的可配置性和可复用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡越黎	上海大学微电子研究与开发中心	70	436	11.0	16.0
5	曹阳	上海大学微电子研究与开发中心	3	21	2.0	3.0