瞬态大电流测量结温中校温曲线弯曲现象的研究

• 作者: 冯士维 朱慧 李睿 王琳 翟玉卫 郭春生
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 二极管 瞬态大电流 校温曲线 串联电阻
• 年，卷（期）: 2015,（18）
• 所属期刊栏目: 电磁学、光学、声学、传热学、经典力学和流体动力学
• 页码范围: 279-285
• 页数: 7页
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.64.184704

摘要

利用脉宽250 μs、占空比5%的0—1.5 A脉冲电流,分别在50, 70, 90, 110, 130℃条件下,对TO-247-2L封装型PIN快恢复二极管大电流下的校温曲线进行了测量分析. 研究发现, 恒定大电流条件下, 二极管的校温曲线随温度变化发生弯曲. 分析表明, 弯曲现象主要是由于串联电阻受迁移率的影响随温度发生变化而引起的. 通过实验测量及理论计算,得到了准确的非线性校温曲线,从而减小了瞬态大电流测量结温中的误差.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭春生	北京工业大学电子信息与控制工程学院	44	302	10.0	15.0
2	翟玉卫		32	64	4.0	6.0
3	冯士维	北京工业大学电子信息与控制工程学院	59	438	12.0	18.0
4	王琳	北京工业大学电子信息与控制工程学院	9	8	2.0	2.0
5	朱慧	北京工业大学电子信息与控制工程学院	8	22	3.0	4.0
6	李睿	北京工业大学电子信息与控制工程学院	10	18	3.0	4.0