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摘要:
具有高集成度及高可靠性的表贴阵列封装在工程中应用越来越广泛,而散热是其最重要的问题之一。这种封装的焊点较为脆弱,在可靠性要求较高的领域,常规的散热方案由于需要对焊点施加较大的正压力,会降低焊点的可靠性。针对这一问题,本文使用了一种零正压力的散热方案,通过热仿真分析,这种方案可以达到散热的目的,且不会对可靠性的其它方面造成影响。
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 表贴阵列封装芯片散热方法研究
来源期刊 电子测试 学科
关键词 阵列封装 BGA CGA 散热 硅橡胶
年,卷(期) 2015,(12) 所属期刊栏目 设计与研发
研究方向 页码范围 1-3
页数 3页 分类号
字数 2214字 语种 中文
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨春雨 中国电子科技集团公司第54研究所 3 6 2.0 2.0
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节点文献
阵列封装
BGA
CGA
散热
硅橡胶
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研究来源
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期刊影响力
电子测试
半月刊
1000-8519
11-3927/TN
大16开
北京市100098-002信箱
82-870
1994
chi
出版文献量(篇)
19588
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36145
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