| 篇名 | Energy-band alignment of atomic layer deposited (HfO2)x(Al2O3) 1-x gate dielectrics on 4H-SiC | ||
| 来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
| 关键词 | energy-band alignment high k gate dielectrics 4H-SiC MOS capacitor | ||
| 年,卷(期) | 2015,(3) | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 408-411 | |
| 页数 | 4页 | 分类号 | |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | 10.1088/1674-1056/24/3/038103 | ||