调制激光致硅晶圆载流子辐射扫描成像试验研究

• 作者: 刘俊岩 宋鹏 王扬 王飞 秦雷
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 调制激光诱发载流子辐射 硅晶圆 输运参数 扫描成像
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 087804-1-087804-8
• 页数: 1页
• 字数: 3282字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.64.087804

摘要

建立了调制激光诱发硅晶圆少数载流子密度波一维模型，仿真分析了少数载流子输运参数对调制激光诱发载流子辐射信号频域响应的影响。利用调制激光诱发载流子辐射扫描成像系统对含有表面划痕的硅晶圆进行了扫描成像试验研究。通过少数载流子密度波模型与多参数拟合方法反求得到了扫描区域的输运参数二维分布图。该方法得到的少数载流子寿命与利用传统光电导方法测量的少数载流子寿命结果相符；分析了划痕对载流子输运参数造成的影响，与光电导方法比较，该方法可以测量不同位置的全部载流子输运参数且分辨率高。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王扬	哈尔滨工业大学机电工程学院	110	956	19.0	24.0
2	刘俊岩	哈尔滨工业大学机电工程学院	29	322	12.0	17.0
3	王飞	哈尔滨工业大学机电工程学院	47	225	7.0	12.0
4	秦雷	哈尔滨工业大学机电工程学院	8	44	3.0	6.0
5	宋鹏	哈尔滨工业大学机电工程学院	13	64	4.0	7.0