一种嵌入式软件逻辑覆盖测试方法研究

• 作者: 刘永恒 徐军 肖永健
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 嵌入式软件 故障注入 逻辑覆盖 故障信号传播
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 1080-1083
• 页数: 4页
• 分类号: TP336
• 语种: 中文

摘要

针对嵌入式软件测试覆盖率低的问题,提出了基于软件故障注入的逻辑覆盖测试方法,首先就嵌入式系统常用传感器建立故障模式库,设计了嵌入式软件故障注入系统;其次选取中间层作为故障注入点,研究基于VxWorks653嵌入式操作系统的故障注入实现方式,并通过分析故障信号在软件系统中的传播,提出优化测试用例的方法;最后通过实验验证了该方法可有效提高容错设计功能、冗余设计功能、故障检测功能测试的逻辑覆盖率;有助于提高嵌入式软件的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘永恒		6	9	2.0	2.0
2	肖永健		1	3	1.0	1.0
3	徐军		2	4	1.0	2.0