一种新的珍珠层厚度测量方法

• 作者: 何锦锋 廖显文 曾明 陈清兰 马毓承
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 珠层厚度 无损测量 边缘识别 圆度拟合
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 1077-1079
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文

摘要

珍珠层厚度是珍珠价值最主要的衡量指标之一,目前珍珠层厚度的无损测量方法主要采用光学相干层析成像技术和X射线技术;光学相干层析成像技术在实际测量时精度较低;在研究X射线测量原理的基础上,提出了一种新的珠层厚度测量方法;首先介绍了灰度图像的边缘识别算法和珍珠核、珍珠外圆度拟合算法,其次提出了一种引入对照机制的珍珠层测量算法,最后还对算法的误差进行了分析,算法的误差可以控制在0.02％以内;实际的测量也验证了该测量方法具有很高的精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾明		2	2	1.0	1.0
2	何锦锋		4	17	2.0	4.0
3	廖显文	桂林电子科技大学北海校区计算机系	4	7	1.0	2.0
4	马毓承		1	1	1.0	1.0
5	陈清兰		1	1	1.0	1.0