基于CMOS集成电路闩锁效应理论的实践

• 作者: 朱纯仁 樊海霞
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: COMS集成电路 闩锁 单片机
• 年，卷（期）: 2015,（18）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 42-43
• 页数: 2页
• 分类号: TP
• 字数: 1720字
• 语种: 中文

摘要

本文针对CMOS集成电路的闩锁效应产生的原因,结合实际调试过程中的案例,探索芯片内部发生闩锁效应后的故障表现并提出避免方法以及解决方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱纯仁	南京工业职业技术学院能源与电气工程学院	7	20	3.0	4.0
2	樊海霞	南京工业职业技术学院能源与电气工程学院	8	8	2.0	2.0