消除锁相环中由于短沟道效应导致的抖动

• 作者: 李龙镇
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 锁相环 电荷泵 低功耗 短沟道
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 页码范围: 25-26,29
• 页数: 3页
• 字数: 2504字
• 语种: 中文

摘要

采用 Magnachip 0.13μm CMOS工艺，设计了一款能可靠地工作在455MHz频率的低功耗电荷泵锁相环。在设计过程中，对短沟道效应带来的影响进行了详细的分析，并提出了一种如何消除由于短沟道效应导致的抖动方法。最终利用Hspice软件进行了仿真测试，仿真结果显示，在1.5V工作电压下，整个电路的功耗小于8mW，锁定时间小于15μs。