X 射线荧光光谱法在我国矿石分析中的应用

• 作者: 金辉
• 来源期刊: 技术与市场
• 关键词: X 射线 荧光光谱法 矿石成分 分析应用
• 年，卷（期）: 2015,（10）
• 所属期刊栏目: 技术研发
• 页码范围: 62-62,64
• 页数: 2页
• 字数: 1861字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-8554.2015.10.031

摘要

近年来，我国科学技术不断进步，高新技术不断地运用于我国的矿石分析中。作为应用较早、使用范围广的元素分析方法—X 射线荧光光谱法（XRF），它之所以发展迅速，得益于它的分析程度效果好、灵敏性好、分析元素无限制、精度非常高等特点。在新的时代背景下，X 射线荧光光谱法因为其突出的特点受到广大研究员的青睐。主要进行简单介绍，让人们认识和了解 X 射线荧光光谱法（XRF），为了结合实际，举例了几种常见矿石样品 XRF 技术的应用。

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