温度计套管的性能测试计算探究

• 作者: 兰奇发 刘贺龙 张加霖
• 来源期刊: 科技风
• 关键词: 性能测试 温度计套管 计算
• 年，卷（期）: 2015,（23）
• 所属期刊栏目: 科技前沿
• 页码范围: 7
• 页数: 1页
• 字数: 1946字
• 语种: 中文

摘要

温度作为一个基本物理量,已经成为各类生产中最为重要的工艺参数.温度温度测量仪表一般分为接触式和非接触式两种,其中接触式温度计多用于工业管道中的温度测量,由于工业中的测温流体多具有腐蚀性,为了保证温度计发生腐蚀,则需要配用温度计套管,以实现数据的准确测量.但是如果套管设计不当,那么其常会出现套管因共振损坏等后果,使得温度测量受到影响.所以,及时对温度计套管的性能测试进行计算十分必要.本文首先对温度计套管进行了概述,然后研究了保护套管的性能测试计算,最后探讨了保护套管设计中改进的措施,本文的研究成果将为优化温度计套管性能提供良好借鉴.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘贺龙		1	1	1.0	1.0
2	兰奇发		1	1	1.0	1.0
3	张加霖		2	1	1.0	1.0