数字射线检测系统平板探测器响应特性的研究

• 作者: 王洪良
• 来源期刊: 山东工业技术
• 关键词: 数字射线检测 平板探测器 成像设备 响应特性
• 年，卷（期）: 2015,（22）
• 所属期刊栏目: 电子技术
• 页码范围: 151,182
• 页数: 2页
• 字数: 2678字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16640/j.cnki.37-1222/t.2015.22.135

摘要

数字射线检测(DR)方法优点明显,比如量子检测效率较高、动态范围比较大、成像速度较快等.这种方法在工业和医学无损检测中,运用非常广泛,DR系统主要成像设备是平板探测器,由于受到制造工艺和散射等因素的限制,导致了DR系统空间分辨率比较差,量子、结构噪声的干扰会严重影响图像质量.所以设法改善图像质量就变得尤为重要.掌握平板探测器的响应特性可以大大提高影像质量,降低剂量,提高检测效率,本文研究平板探测器对X射线的能量和强度响应特性,为数字射线检测技术提供指导.