合成绝缘子内缺陷带电检测方法研究综述

• 作者: 杨哲 贺瑞斌 邢敬 高阳
• 来源期刊: 山东工业技术
• 关键词: 合成绝缘子 内缺陷 带电检测 电场法
• 年，卷（期）: 2015,（17）
• 所属期刊栏目: 电力技术
• 页码范围: 175-176
• 页数: 2页
• 字数: 2993字
• 语种: 中文

摘要

由于合成绝缘子内缺陷造成的故障越来越多，有必要对合成绝缘子进行内缺陷带电检测。本文详细地综述了国内外合成绝缘子内缺陷带电检测技术的研究现状，阐述了几种典型的合成绝缘子内缺陷带电检测方法及各方法的优缺点；对合成绝缘子内缺陷带电检测方法技术进行了展望与总结。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高阳	沈阳工程学院电力学院	100	699	11.0	25.0
2	邢敬	沈阳工程学院电力学院	4	16	2.0	4.0
3	杨哲		3	11	1.0	3.0
4	贺瑞斌		2	0	0.0	0.0