利用荧光光谱法测定钨矿中主次元素探析

• 作者: 曹克俊
• 来源期刊: 建材与装饰
• 学科: 地球科学
• 关键词: 荧光光谱法 钨矿 主次元素
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 页码范围: 114-115,116
• 页数: 3页
• 分类号: P575.5
• 字数: 2113字
• 语种: 中文

摘要

钨矿在工业生产中起着重要作用，所以钨矿中主次元素的检测对于钨产业的发展至关重要。本文采用熔融玻璃片法，使用X射线荧光光谱法测定钨矿石中的钨、磷等主次元素。所用的样本符合国家标准（1级），用α系数内标法和康普顿散射作内标校正基体效应所用校准。检测结果显示：主、次量组分方法的精密度（RSD，n=10），即0.37~6.80%。因此， X射线荧光光谱法测定钨矿石中主次元素的准确、快捷和方便的方法，可以有效地减少对环境的污染。