智能电子设备电磁兼容裕度设计

• 作者: 余华武 史志伟
• 来源期刊: 智能电网
• 学科: 工学
• 关键词: 智能电子设备 电磁兼容 辐射发射 性能一致性
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 应用与设计
• 页码范围: 334-339
• 页数: 6页
• 分类号: TM92
• 字数: 3715字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14171/j.2095-5944.sg.2016.03.017

摘要

随着智能变电站的推广应用，用户对智能电子设备(intelligent electronic device，IED)的可靠性要求越来越高，并且对该设备制造厂批量生产的性能一致性提出更高要求。从测试环境、IED器件参数、制造工艺、测试设备、测试方法以及测试结果评判6个方面分析影响测试结果一致性的因素，提出不同电磁兼容(electro magnetic compatibility，EMC)项目测试强度的裕度推荐值。通过外壳端口的辐射发射案例，验证不同实验室的测试结果差异，并采取改进措施，将辐射发射裕度充分提高，确保测试结果具有良好的一致性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余华武		8	23	3.0	4.0
2	史志伟		4	10	1.0	3.0