基于ATE的可编程逻辑器件测试方法

• 作者: 解维坤
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 可编程逻辑器件 ISP ATE 测试
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 页码范围: 12-15
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2126字
• 语种: 中文

摘要

集成电路发展模式已从软编程、硬编程到软硬双编程方向发展，可编程器件已成为时代主流，对可编程器件的测试需求越来越多。首先介绍了可编程器件的概念和分类，然后针对目前主流的自动测试设备（ATE）做了介绍，接着详细描述了各种可编程器件的测试方法。该方法具有较强的通用性，可广泛应用于各种PLD、PROM、CPLD、FPGA等可编程器件的测试，对于实现可编程器件的产业化测试具有一定意义。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	解维坤		10	22	2.0	4.0