黄铜三通接头裂纹原因分析

• 作者: 尚尔峰 王亚勤 王志明
• 来源期刊: 热处理技术与装备
• 关键词: 黄铜 沿晶断裂 双空位 脱锌腐蚀 应力腐蚀开裂
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 失效分析
• 页码范围: 51-55
• 页数: 5页
• 分类号: TG146.1+1|TG113.23+1
• 语种: 中文

摘要

某黄铜三通接头在打压试验进行20天后产生裂纹.经过宏观及微观检验,结果表明,三通接头化学成分、显微组织及低倍组织均符合相关标准规定.由于接头内螺纹表面附着含S元素介质,断口显示沿晶断裂特征,本文从黄铜双空位机制脱锌腐蚀角度探讨了导致三通接头产生应力腐蚀开裂的原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王亚勤		8	42	3.0	6.0
2	王志明		6	16	2.0	4.0
3	尚尔峰		5	5	2.0	2.0