GIS设备内部发热性缺陷分析

• 作者: 刘兴文 周新军 孙利朋 谢耀恒 齐飞
• 来源期刊: 湖南电力
• 学科: 工学
• 关键词: 带电检测 红外热成像 GIS 发热 缺陷
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 经验与探讨
• 页码范围: 66-68
• 页数: 3页
• 分类号: TM855.1
• 字数: 1909字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0198.2016.02.017

摘要

本文根据1例隔离开关内部接触不良导致的发热缺陷,结合其他带电检测手段及其负载情况,进行了综合分析,认为该类缺陷应结合特高频、 超声波局部放电和SF6气体分析结果,判断其是否存在放电性缺陷,且应加强跟踪检测,防止因接触不良而导致悬浮、 自由颗粒或尖端等放电缺陷;同时,分析缺陷发热严重程度时应综合考虑罐体结构、 气室大小以及负载情况等因素.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	齐飞	国网湖南省电力公司电力科学研究院	20	59	5.0	6.0
2	孙利朋	国网湖南省电力公司电力科学研究院	22	33	3.0	4.0
3	刘兴文	国网湖南省电力公司电力科学研究院	6	9	2.0	3.0
4	谢耀恒	国网湖南省电力公司电力科学研究院	17	76	5.0	8.0
5	周新军		4	9	3.0	3.0